助力中国电信开拓创新
东数西算助推光纤升级换代，G.654.E光纤迎来高速增长
middot，数字经济是国家高质量发展的抓手，东数西算是推动国家数字经济发展的重要战略举措东数西算骨干网络需要高性能的光纤，必将推动传统光纤的升级换代，G.654.E光纤将迎来高速增长机会
middot，ITU—T自2013年7月开始讨论这种适用于陆地传输系统的G.654光纤，可以在保持与现有陆地应用单模光纤基本性能一致前提下，增大光纤有效面积，同时降低光纤衰减系数，从而提升400G传输性能。
middot，ITU—TG.654标准上一版本发布于2012年，共包含A，B，C和D四个子类，主要区别在于MFD范围和宏弯性能上在G.654最新版本修订中，针对陆地高速相干传送系统应用，增加了E子类
middot，在2016年9月ITU—TSG15全会上，G.654标准修订完成并通过，标志着应用于陆地高速传送系统的G.654.E光纤正式完成标准化工作此次会议主要针对G.654.E光纤的模场直径与有效面积，宏弯损耗特性，色散参数和衰减系数等特性进行了规定
middot，模场直径与有效面积
middot，G.654.E光纤在1550nm区的MFD范围为11.5um～12.5um，相应的有效面积范围从110um2到130um2，相比现有G.654.B子类，缩严了MFD标称值范围，但容差仍然保持为plusmn，0.7um。
middot，宏弯损耗特性
middot，陆地应用工作环境复杂，温度和气候等复杂多变，外部环境对光纤性能影响较大，因此G.654.E光纤弯曲性能尤为重要，需要远优于海底应用的G.654光纤。。
middot，因此针对G.654.E子类，其标准要求在100圈30mm半径打环时，在1625nm处的最大附加衰减应不超过0.1dB，要远优于G.654.B子类和G.654.D子类，达到与G.652.D完全相同的弯曲性能，以打消有效面积增大可能导致陆地应用弯曲性能劣化的顾虑。
middot，在中国联通现网试点工厂测试中，基于ITU规范的测试方法，分别测试了1550nm和1625nm处的宏弯损耗，可发现附加衰减基本都小于0.1dB，其中81.8%要小于0.05dB。
G.654.E光纤性能
指标要求
middot，衰减系数 — 标准文件正文中明确指出在1550nm区域，可以实现0.15dB/km到0.19dB/km的光纤衰减系数，其中最低衰减系数取决于制造工艺，光纤材料与设计以及光缆设计。
middot，色散参数 — 由于G.654光纤主要工作波长区域在1530nm～1625nm，因此针对该波长区规范了色散和色散斜率的范围，其中在1550nm处，色散最大值Dmax为23ps/，最小值Dmin为18ps/，色散斜率最大值Smax为0.07ps/，最小Smin为0.05ps/
400G+的需求使G.654.E 成为超高传输技术光纤主流
东数西算网络布局空间跨度大，数据传输更为频繁，用户对时延要求更高，现有骨干网络的性能难以胜任事实上伴随着数据流量不断增长，传统承载网的数据传输和带宽压力不断增加，骨干网传输速率将从100G不断向200G/400G等更高速率升级根据预测，未来2年，超100G网络在整体市场份额中将超过60%，并且400G+将成为超100G网络的主流应用中国移动研究院专家表示，从骨干网层面来看，单波400G即将开启，并进入长周期因此，提前部署支持200G，400G系统的光纤光缆产品是建设高速信息网络的基础但现网中使用的G.652光纤，已经无法满足未来光传输网络超高速率，超大容量，超长距离的传输需要
G.654.E光缆的熔接机熔接及测试需求
middot，工程方面，主要反馈熔接一次成功率低，导致光缆接续时间长通过分析，主要原因来自于:一是环境因素，工程反映不同季节熔接成功率差异大，车内施工有利于改善质量，二是装备原因，熔接机自动接续模式下，熔接损耗缺乏稳定性
middot，G.654.E较宽泛的模场直径mdash，mdash，不同厂家纤芯互熔产生较大接续损耗
middot，G.654.E的大有效面积mdash，mdash，某些熔接机无法准确识别纤芯，包层，需要设为包层对准，甚至多模模式才能熔接，对熔接损耗有潜在影响
middot，G.652.D和G.654.E在折射率剖面设计，模场直径差异明显mdash，mdash，二者互熔存在熔接损耗过大，反射明显。
需要OTDR的更加精准的双向测试验收！
G.654.E OTDR测试方案
MTS4000，ONA—800 测试平台
middot，OTDR 支持三波长，测试1550nm及1625nm波长
middot，OTDR 更高的测试精度及线性度
middot，OTDR支持现场的真正双向测试，实时给出测试结果
***电信G.654E长途光缆 — OTDR测试仪表
XX电信G.654E长途光缆OTDR测试报告
测试时间:2021年10月29日
测试地点:中国电信***分公司
测试人员:VIAVI仪表厂家，**电信工作人员
测试仪表:VIAVI ONA—800 E8136D
仪表主要技术参数:
光纤端面检测 ndash， 先检查，后连接
确保符合IEC 61300—3—35的简单方法是遵循先检查，后连接最佳实践 检查连接的两侧非常重要 — 例如，检查连接的公头端和母头端的连接器 检查连接的两侧是确保连接没有污染和缺陷的唯一方法 使用IBYC时，请务必先检查光纤 — 无需清洁干净的端面 如果脏了，请清洁并再检查以确认清洁是否有效 只有当两个连接器都干净时，才能进行连接
1550nm波长结果分析:
VIAVI G654.E分析配置文件测试结果可直观反映长途光纤，并针对其中的光纤接头，熔接，连接器等有明显标注，解释，方便非专业技术人员查看，理解在1550nm波长下，测得光缆总损耗16.543dB， 平均损耗0.177dB， 链路回损30.24dB， 以及各分段的长度，斜率等参数同时也可呈现真实测试的OTDR曲线
1625nm波长结果分析:
VIAVI G654.E分析配置文件测试结果可直观反映长途光纤，并针对其中的光纤接头，熔接，连接器等有明显标注，解释，方便非专业技术人员查看，理解在1625nm波长下，测得光缆总损耗18.188 dB， 平均损耗0.195dB， 链路回损30.66dB， 以及各分段的长度，斜率等参数同时也可呈现真实测试的OTDR曲线
1625nm波长结果分析:
VIAVI G654.E分析配置文件测试结果可直观反映长途光纤，并针对其中的光纤接头，熔接，连接器等有明显标注，解释，方便非专业技术人员查看，理解在1625nm波长下，测得光缆总损耗4.739 dB， 平均损耗0.200dB， 链路回损31.41dB， 以及各分段的长度，斜率等参数同时也可呈现真实测试的OTDR曲线
熔接增益及双向测试
在XX电信的测试中，我们发现每条链路都出现了增益现象如右图***到**枢纽段的测试结果，第六个事件的损耗为—0.017dB，此为熔接增益现象为准确测试该事件点的损耗，需执行OTDR双向测试
双向分析的概念如下:如果在两个熔接的光纤之间存在后向散射系数的不匹配，则根据测量的方向，此差异的代数含义将会改变即，如果在一个方向上执行测量，则此差异作为增益出现如果在相反方向测量，则此差异作为损耗出现此差异将与测量过程中的实际熔接损耗相结合可是，如果在两个方向上所读取的熔接损耗读数被平均，则后向散射的影响将被减去，生成实际的熔接损耗
为何要双向测试
消除光纤增益影响，测试熔接点实际损耗，科学辅助工程验收
传统双向测试很麻烦，效率很低
rarr，第一步: 做一端测试 A—B:
rarr，第二步: 做另一端测试 B—A:
rarr，第三步: 将测试数据导出到电脑中，使用专用的分析软件，做双向数据合并分析，软件给出双向测试结果。采用VIAVITeraVMO-CU模拟器和TeraVM核心仿真器对Sercomm小蜂窝O-RU/O-DU进行了性能测试。
rarr，第四步:根据电脑软件的数据分析结果，在次去处理故障问题，不能实时给出测试结论。
rarr，重复以上过程。
真正的熔接损耗: / 2
1550 nm : 0，049 dB
TestPRO/FCOMP:智能真双向测试
特点:
middot，自动智能双向测试
middot，一键测试， 基于一个光口
middot，连续测试
middot，全面测试出所有指标:
middot，双方向测试插损及反射指标
middot，双方向OTDR曲线
middot，远程控制
middot，两台OTDR 自动交互
middot，测试设备直接生成双向测试报告，当场给出测试结果。
自动真双向测试
针对多纤光缆/MPO 应用进行扩展，与单芯光纤具有相同的实时双向OTDR 功能
middot，连续性测试和光纤映射，多纤光缆/MPO光纤链路Tier2验证报告
middot，使用CABLE—SLM 控制测试过程
色散
在传输过程中，影响信号的另一个因素是色散色散减少了有效的可用传输带宽，单模光纤有两种类型的色散:色散以及极化模式色散
色散的出现是因为光脉冲是由不同波长组成的，每个波长以不同的速度沿着光纤进行传输当光脉冲到达接收机时，这些不同的传输速度展宽了光脉冲，减少了信噪比，增加了比特误码
极化模式色散
色散由三个主要参数来定义:
1.给定波长上的延时，以ps表示。
2.色散系数，以ps/nm表示它对应于延时的漂移与波长之间的关系如果它相对1 km进行归一化，则它被表示为ps/
3.斜率，以ps/表示它对应于色散系数的漂移作为波长的函数
色散系数以及斜率依赖于光纤的波长色散主要依赖于生产过程当设计不同类型的光纤用于不同的应用与不同的需求时，光缆生产厂家考虑色散的效应，例如标准光纤，色散偏移光纤或者零色散偏移光纤
rarr，极化模式色散是单模光纤的一个基本特性它影响传输速率的大小PMD是由于给定波长上的能量的传输速率的不同而引起的，PMD被分为两个极化轴，这两个极化轴互相垂直引起PMD的主要原因是光纤设计的非圆度以及外界加在光纤上的压力
PMD也被称为所有差分群时延的平均值，以ps表示。对富士康(Foxconn)/WNC/Alpha/ITRI的O-RU测试则使用了VIAVITM500O-RU测试仪。它还可以被称为PMD系数，此系数与距离的方根值有关，被表示为
当传输脉冲沿着光纤传送时，PMD引起传输脉冲展宽此现象会生成失真，增加了光系统的比特误码率PMD的影响是它限制了链路上的传输比特率因此，非常重要的一点是了解光纤的PMD值以便计算光纤链路的比特率限值
G.654.E干线色散测试方案
测试光源，PMD/CD分析仪集成方案，全部为便携式仪表方案，电池供电
测试距离长，跨度大，精度高，速度快。
总结
middot，中国电信在国内率先建成该干线光缆，推动了G.654E产业链的成熟，对干线光缆网从G.652D迈入G.654E新型光纤时代具有引领作用，对建设绿色低碳全光网络具有积极重要的示范意义。开放式无线电单元和开放式分布单元(O-DU)ndash;采用VIAVITM500O-RU测试仪，以及罗德与施瓦茨公司(Rohdeamp;Schwarz)SMW200A矢量信号发生器(VSG)，FSW信号与频谱分析仪，VSE矢量信号分析软件验证了CasaSystemsApex5GEvoRadio。
middot，使用VIAVI仪表可准确测试G654.E光纤斜率，损耗和光纤距离。
middot，测试中可准确判断连接器，熔接点等各种事件类型。
middot，仪表支持智能链路分析功能，可智能图形化呈现测试结果，便于查看同时对于事件点给出原因分析，便于后续故障处理
middot，仪表动态范围达到50/50/50dB，超高动态范围可测试更远距离。
middot，仪表的事件盲区和衰减盲区分别为0.5/2.5米，更好的盲区可保证更高的测试精度。
middot，MTS6000+ODM，OBS—550色散测试方案，测试距离长，跨度大，精度高， 满足PMD/CD测试分析的所有需求
middot，FiberComplete — OTDR双向测试能够更精确，更真实给出熔接/事件损耗。
middot，为了能够更加全面的测试G.654E光纤具备优异的光学性能VIAVI的测试仪表可以为G.654E的现场验收及测试给以更大的帮助与支持
middot，仪表采用基于LINUX研发的专用仪表操作系统，在运行稳定性和安全性方面有更多优势。
。郑重声明：此文内容为本网站转载企业宣传资讯，目的在于传播更多信息，与本站立场无关。仅供读者参考，并请自行核实相关内容。
